基于LabVIEW的電容近炸引信綜合參數測試系統的研究
2011/7/6 11:08:00
0 引言電容近炸引信的信號處理電路動態性能參數測試系統是采用 Lab VIEW6.0開發平臺開發的程序、NI公司的 PCI60 2 4E數據采集卡、RDR(引信信號處理電路 )所組成的系統。該系統能模擬接近目標的檢波信號 ,通過 PCI60 2 4E傳送到 RDR,同時監測引信電路控制臺內部的各主要電路
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